Microscope Électronique en Transmission Ultrarapide (METU), Jeol JEM-2100 Plus

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Modelé :

Microscopie Électronique en Transmission (MET) combiné à un laser femtoseconde (METU) pour l’analyse dynamique ultrarapide.

Caractérisation par spectroscopie de pertes d’énergie des électrons (SPEE).

• Canon d’électrons : – Émetteur LaB₆

– Tension d’accélération: 60 kV à 200 kV

• Résolution: – en mode transmission = 0.14 nm à 200 kV

– en mode transmission-balayage = 2.0 nm à 200 kV

• Grossissement: x30 à x18,000,000

• Gif de Gatan (SPEE, METFE, METB)

• Caméras Orius et Ultrascan1000 de Gatan

• Observations d’échantillons ultraminces (< 100 nm)

• Caractérisation chimique élémentaire avec SPEE et METFE

• Analyse dynamique (résolution temporelle < 1 ps et spatiale > 1 nm)