Caractérisation (nanomatériaux et nanodispositifs)

Présentation de la Caractérisation (nanomatériaux et nanodispositifs)​

Filtre Machines

Spectroscope des Photoélectrons émis par Rayons X conventionnels et de haute énergie (XPS-HAXPES), PHI Quantes

Diffractomètre des rayons X à Haute-Résolution (HR-DRX), Panalytical X-Pert PRO MRD

Diffractomètre des rayons X (DRX), Panalytical X-Pert PRO MRD

Diffractomètre des rayons X (DRX), Bruker D8 Advance

Microscope Électronique en Transmission Dynamique (METD), Jeol JEM-2100 Plus

Microscope Électronique en Transmission Ultrarapide (METU), Jeol JEM-2100 Plus

Faisceau d’Ions Focalisé intégré avec un Microscopie Électronique à Balayage (FIB/MEB), Tescan LYRA 3 XMH

Microscope à Balayage de Sonde (AFM / STM), Veeco Multimode (Digital Instruments)

Microscope à Force Atomique (AFM), Veeco Enviroscope (Digital Instruments)

Microscope à Balayage de Sonde (AFM / STM) travaillant sous ultravide, Jeol 4500 UHV AFM/STM

Microscope à Balayage de Sonde (AFM / STM) travaillant sous ultravide, Omicron Nanotechnology VT UHV STM / AFM

Microscope à Force Atomique (AFM), XE-150 (Park Systems)

Microscopie Électronique à Balayage (MEB), Tescan Vega3 LMH

Microscope Électronique à Balayage (MEB), Jeol JSM-7401F

Microscope Optique, Nikon Eclipse L200

Profilomètre XP-2 d'Ambios

Caractérisation Électro-optique de matériaux

Caractérisation et mise en forme d’impulsions optiques

Caractérisations linéaires et non-linéaires de dispositifs nanophotoniques

Ellipsomètre, J.A. Woolam M-2000

Ellipsomètre, J.A. Woolam VVASE

Mesure de couplage par prisme, Metricon 2010/M

Wire-bonder, KS4523

Probe Station, Alessi 4500

Probe Station, Cascades Summit 11000