> Diffractomètre des rayons X (DRX Panalytical)

Rôle de l'appareil

   Analyse structurale des polycristaux et des monocristaux. L’échantillon peut-être déplacé suivants les axes Oméga, Phi, Psi, X, Y et Z grâce à la plateforme 4 cercles.

Spécifications techniques

• Source de rayons X CuKα, λ = 1.542 Å
• Faisceaux parallèle et divergent
• Configuration de mesure horizontal
• Détecteur : proportionnel au gaz
• Plateforme 4 cercles :
- 2θ = -10º to150º
- Ω = -90º to+90º
- Φ = 0º to360º
- Ψ = -90º to+90º
- X et Y : 100 mm de déplacement
- Z : 11 mm de déplacement

Accessoires

• Module Rocking Curve et module Parallel Plate Collimator 0.18º (PPC)
• Base de données JCPDS PDF2 (2004)

Exemples de procédés et de services disponibles

• Mesures de la qualité des couches épitaxiales (Bragg-Brentano, incidence rasante, phi-scan, rocking curve, pôle figure, cartographie dans l’espace réciproque, diffraction in-plane)
• Réflectivité pour déterminer la densité et l’épaisseur des couches minces simples ou multiples.