> Diffractomètre des rayons X (DRX Bruker)

Rôle de l'appareil

   Analyse de la structure cristalline en incidence rasante et en incidence Bragg-Brentano pour les échantillons polycristallins.
   Possibilité de mesures in-situ sous atmosphère, pression et température controlés.

Spécifications techniques

• Source de rayons X CuKα, λ = 1.542 Å
• Faisceau parallèle (miroir de Göbel) et faisceau divergent (mode “poudre”)
• Configuration θ/2θ (source fixe)
• Détecteur : scintillateur

Accessoires

• Four Anton Paar XRK900 pour mesures in-situ en température (20 à 900ºC), pression (1 mbar à 10 bars) et atmosphère controlés
• Détecteur 2 Dimensions (GADDS)
• Cellule électrochimique in-situ
• Base de données JCPDS PDF2 (2004)

Exemples de procédés et de services disponibles

• Mesures en incidence Bragg-Brentano des poudres et en incidence rasante des couches minces
• Identification des phases cristallines
• Détermination de la taille des cristallites