Rôle de l'appareil
Le Microscope à Balayage de Sonde est un appareil capable de détecter la topographie d’une surface en trois dimensions à l’échelle atomique.
Conçu pour travailler sous ultravide, produit des images ayant une résolution atomique dans les deux modes d’opération (STM et AFM). Le nettoyage de l’échantillon (préparation de la surface) se fait in-situ par chauffage direct ou indirect ou par pulvérisation par bombardement ionique (ion sputtering). Le principal atout de cet instrument est la possibilité de mesurer dans une vaste gamme de températures, entre 25 K et 1500 K.
Spécifications techniques
• Dimensions maximales de l’échantillon: 9×5 mm² ou 7 mm de diamètre; hauteur: 2 mm
• Pression de mesure: < 3×10-11 mbar.
• Température de mesure: 25 – 1500 K
• Dimensions maximales de balayage X et Y: 12 µm, Z: 1.5 µm
• Modes d’opération: STM (feedback en courrant) AFM en mode non-contact véritable (feedback en fréquence, système avec résonateur de quartz et boucle PLL pour suivre la résonance).
Accessoires
• LEED – Spectroscopie électronique Auger
• VACSCAN MKS spectromètre de masse
• ISE 10 source d’ions (Argon, Hydrogène, Oxygène)
• Système d’introduction de gaz pour expériences de déposition et de croissance de molécules sur un substrat quelconque.
Exemples de procédés et de services disponibles
• Réactions de polymérisation induite par la surface
• Étude des processus de surface
• Analyse de métaux, semi-conducteurs et supraconducteurs avec résolution atomique
• Étude des transitions de phase de surface
• Étude des interactions entres molécules; auto-assemblage, auto-organisation.
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