> Microscope Électronique en Transmission Ultrarapide (TEMU)

Modèle : Jeol JEM-2100 Plus

 

Rôle de l'appareil

Microscopie Électronique en Transmission (MET) combiné à un laser femtoseconde (METU) pour l'analyse dynamique ultrarapide.
 
Caractérisation par spectroscopie de pertes d'énergie des électrons (SPEE).
 

Spécifications techniques

• Canon d’électrons : - Émetteur LaB6

                                    - Tension d'accélération: 60 kV à 200 kV
 
• Résolution: - en mode transmission = 0.14 nm à 200 kV
                       - en mode transmission-balayage = 2.0 nm à 200 kV
 
• Grossissement: x30 à x18,000,000
 

Accessoires

• Gif de Gatan (SPEE, METFE, METB)
• Caméras Orius et Ultrascan1000 de Gatan
 

Exemples de procédés et de services disponibles

• Observations d'échantillons ultraminces (< 100 nm)
• Caractérisation chimique élémentaire avec SPEE et METFE
• Analyse dynamique (résolution temporelle < 1 ps et spatiale > 1 nm)

 

 

 

Contact : Patrick Soucy