Accueil » Fiche technique » Microscope Électronique en Transmission Dynamique (METD), Jeol JEM-2100 Plus
Microscopie Électronique en Transmission (MET) combiné à deux laser nanosecondes pour l’analyse dynamique.
• Canon d’électrons : – Émetteur LaB6 • Tension d’accélération: 100 kV à 200 kV • Résolution: en mode transmission = 0.14 nm à 200 kV • Grossissement: x30 à x18,000,000
Camera Ultrascan1000 de Gatan
patrick.soucy@inrs.ca