> Microscope à Balayage de Sonde (AFM / STM) Multimode

Rôle de l'appareil

   Le Microscope a Balayage de Sonde est un appareil capable de détecter la topographie d’une surface en trois dimensions. Pour ce faire, la surface interagit avec une pointe très fine placée très proche et qui balaye la surface étudiée. L’interaction entre la surface et la pointe est maintenue constante a l’aide d’une électronique de contrôle, qui traite aussi les signaux et construit les images.
Cet appareil, très versatile, peut être configurée comme Microscope à Effet Tunnel (STM) ou comme un Microscope à Force Atomique. Les mesures sont faites à l’atmosphère ambiante.

Spécifications techniques

• Dimensions maximales de l’échantillon: diamètre 15 mm, hauteur: 5 mm
• Dimensions maximale de balayage:
- (STM): X and Y: 500 nm, Z: 200 nm
- (AFM): X and Y: 10 um, Z: 2.5 um
• Modes d’opération: STM (feedback en courrant), AFM: contact (feedback en déflection), contact intermittent (‘Tapping’, feedback en amplitude)
• Signaux additionnels disponibles pendant le balayage: friction (en mode contact), phase (en mode contact intermittent).
• Techniques avancées: Microscopie a Force Magnétique (MFM) , en mode à double passage avec boucle PLL pour détecter et suivre la fréquence de résonance.

Accessoires

• Cellule pour mesures électrochimique en milieu liquide disponible.

Exemples de procédés et de services disponibles

• Mesures de routine de la topographie
• Étude de l’auto-organisation des molécules et leur interaction sur le substrat.
• ‘Contraste de matériau’ via la détection de la friction/adhésion (en mode contact) ou de la phase des vibrations du cantilever (en mode contact intermittent).