Rôle de l'appareil
Le metricon 2010 est une plateforme de mesure des propriétés optiques de couches minces.
Spécifications techniques
• Mesure de l'indice optique et de l'épaisseur avec une grande précision (±0.001 pour l'indice, ±0.5% pour l'épaisseur)
• Résolution de ±0.0003 pour l'indice, ±0.3% pour l'épaisseur
• Longueurs d'onde disponibles : 632nm, 980nm, 1310nm et 1550nm
• Plages indice/épaisseur accessibles: n=1.7 à 2.45, n<2.1 (optimal 1.4 à 2.1) / ep.>300 à 700nm et jusqu'à 15um
• Tailles des échatillons de 1cm x 1cm jusqu'à 8in carré
• Mesures TE et/ou TM, 1 à 2 min par scan
• Traitement automatique ou manuel des données, sauvegarde des scans
Accessoires
• Mesure en fonction de la température (25 à 150°C)
• Mesure en fonction d'un champ électrique appliqué
Exemples de procédés et de services disponibles
• Mesure des propriétés électro-optiques d'un matériau
• Mesure des changements d'indice après recuit thermique
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Tarif Académique | Industriel :
42 $/h | 125 $/h
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